1574_AURIX_TC275_SCU中的杂项控制

全部学习汇总： ​​GitHub - GreyZhang/g_TC275: happy hacking for TC275!​​

接下来的这一段算是SCU章节最后的一次内容梳理了，剩下的内容也不是很多了。杂项并不是英文的直接翻译，算是我自己选择的一个表达方式。

这里涉及到的功能有CCU6，也有一些检测模式相关的部分。

1. CHIPID中能够读出MCU的版本以及一些封装信息。
2. 在下面的这个画出的地方，看得出来，ABCD step的标识，这也终于让我明白了为什么劳特巴赫等调试器可以获知MCU的这些信息了，应该就是从这个寄存器读取的。
3. 并不确定EEC是不是一个错误的缩写，但是结合上下文暂时没看出这个可能是一个什么缩写。
4. FSIZE这个参数是很让我欣喜的，原来还能够从寄存器的信息直接获取MCU所拥有的FLASH大小。

之前还想查一下MCU的型号看看是否支持HSM，看起来也不一定查型号，直接通过软件就可以判断出来。

这里接触了一个新的缩写JEDEC，电子工程设计发展联合会。这里的寄存器可以读出英飞凌在这个协会注册的代号。

1. 能够用kernel来描述SCU，足以看得出来这个模块的复杂度。
2. 下面表格中的信息，之前学习笔记中已经看过整理过。

这里标注了CPUx的信息，只能够由相应的CPU写入。

这里针对CPUx所表达的意思进行了一个说明，这个也是前面看到的一个例子的解释。

这样，SCU模块的所有的功能基本看完了，接下来，可以针对性做一些代码相关的测试了。