实验二：逻辑门外特性的测试

实验二：逻辑门外特性的测试

一、实验目的

1. 掌握 TTL 门电路各参数的意义及测试方法。
2. 掌握 CMOS 门电路各参数的意义及测试方法。
3. 通过对门电路外特性的测试，更好地了解 TTL 与 CMOS 门电路的电气性能和特 点。
4. 进一步熟悉示波器的使用方法及分析波形图的能力。

二、仿真器材

• 四2输入74ls00芯片
• 电流表

三、实验内容

1． 测量 TTL 门电路的空载功耗 

① 空载导通功耗 PON 

空载导通功耗PON是指输入全部为高电平、输出为低电平且不带负载时的功率损耗。

② 空载截止功耗 POFF

空载截止功耗 POFF 是指输入至少有一个为低电平、输出为高电平且不带负载时的 功率损耗。

③ 静态平均功耗 静态平均功耗是电路空载导通功耗 PON和空载截止功耗 POFF的平均值。

2． 测量 TTL 门电路的输入短路电流 IIS

输入短路电流 IIS 是指一个输入端接地，其余端开路或接高电平，输出空载时接地 输入端流出的电流。

3.测量 TTL 门电路的高电平输入电流 IIH  

高电平输入电流 IIH 又称输入漏电流，它是指输入端一端接 高电平、其余输入端接地时流过那个接高电平输入端的电流。 

4． 测量 TTL 门电路的扇出系数 NO

扇出系数 NO是指门电路能正常驱动同型号门电路的最多个数。