点,圆,圆弧,圆键槽,矩形键槽,正多边形可以使用向量创建测量。
向量创建测量(关键字VECBLD),采样点数(通常为3个),以测量键槽为例:
测量时测量机会先在键槽的周围平面上先测量3个样例点构造成一个新的投影平面,之后再测量键槽。
在易变形薄壁件中,使用样例点可以提高测量的准确性。
控制样例点位置
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点,圆,圆弧,圆键槽,矩形键槽,正多边形可以使用向量创建测量。
向量创建测量(关键字VECBLD),采样点数(通常为3个),以测量键槽为例:
测量时测量机会先在键槽的周围平面上先测量3个样例点构造成一个新的投影平面,之后再测量键槽。
在易变形薄壁件中,使用样例点可以提高测量的准确性。
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