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【NI国产替代】LCR 阻抗测试平台,可实现最快 5 ms 的测量速度


•支持开路电压、恒压和恒流三种测试激励模式

• 激励电平最高支持 2 Vrms 或 20 mArms,且带直流偏置功能

• 支持 20 Hz 至 2 MHz 的宽频测量范围

• 阻抗测量基本精度优于 0.1%

• 高达 19 种参数测量

• 最快 5 ms 的测量速度

• 紧凑、模块化,适合多通道并行测量

【NI国产替代】LCR 阻抗测试平台,可实现最快 5 ms 的测量速度_参数测试

【NI国产替代】LCR 阻抗测试平台,可实现最快 5 ms 的测量速度_fpga开发_02

LCR 阻抗测试平台是⼀款精密型 LCR 表,其基本测量精度可达 0.1%,且支持多种 测试激励模式,拥有 20 Hz 至 2 MHz 连续可调的宽范围测试频率,和 0 至 2 Vrms 或者 0 至 20 mArms 连续可调的测试电平,并且具备可调最大 2 V 的直流偏置功能;使用该平台可测试多种阻抗参数,测量精准的同时,可实现最快 5 ms 的测量速度,其紧凑、模块化的设计为产线元器件,材料,半导体,MEMS 等阻抗参数测试测量提供了高性价比的选择。

【NI国产替代】LCR 阻抗测试平台,可实现最快 5 ms 的测量速度_数据采集_03

应用场景

主要应用于元器件,材料,半导体,MEMS 等阻抗参数测试测量

【NI国产替代】LCR 阻抗测试平台,可实现最快 5 ms 的测量速度_应用场景_04

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