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RationalDMIS 2020变速变密度扫描(定义引导路径扫描 II)

流计算Alink 2022-06-06 阅读 70

曲线扫描方式:define guided path scan II,实现变速和变密度扫描;
RationalDMIS 2020变速变密度扫描(定义引导路径扫描 II)_右键

仅在UCC控制器上支持这种扫描方式;和常规扫描方式的区别是每个扫描控制点包含扫描速度和密度参数;

RationalDMIS 2020变速变密度扫描(定义引导路径扫描 II)_右键_02
功能描述:

此方法创建的扫描控制点每个都包含速度和dist/pt参数;这个扫描方法将产生变速及变密度扫描;

RationalDMIS 2020变速变密度扫描(定义引导路径扫描 II)_ide_03
1 曲线元素右键增加’define guided path scan II’方法(仅在 I++驱动支持此方法);

2 ‘创建扫描点’左边的按钮切换到速度和 dist/pt 设置, 这个界面可以设置整体的最大最小速度,最大最小密度;

3 其他方法类似常规的定义控制点扫描方式;

产生点和控制点列表:

1 速度和 dist/pt 设置被用在产生点,可以设置最大最小速度和最大最小密度( dist/pt) ;

2 计算点的时候,每个点的曲率会计算出来,基于曲率,最大速度会赋予最小曲率控制点;最小速度赋予最大曲率点;最大 dist/pt 赋予最小曲率,最小 dit/pt 赋予最大曲率点;

一般来说平的曲线区域会扫描的快并且点数少;曲率大的区域会扫描的慢且点数多;
3 每个控制点包含 14 个参数
(XYZ): 曲线上的一个点,扫描要通过这个点;
(IJK): XYZ 处的矢量;
(PI,PJ,PK): 测头 promary vector,只用在 REVO 上, PH10 忽略;
(SI,SJ,SK): 测头 secondary vector,只用在 REVO 上, PH10 忽略;
(Speed): 此点的扫描速度;
(dist/pt): 此点的扫描密度;

RationalDMIS 2020变速变密度扫描(定义引导路径扫描 II)_i++_04
控制点编辑:
RationalDMIS 2020变速变密度扫描(定义引导路径扫描 II)_ide_05
1 菜单编辑:

控制点编辑菜单类似常规产生控制点扫描路径方法;

新增加’拷贝’功能,可以拷贝速度, dist/pt, speed and dist/pt;最后的拷贝属性保存在内存中,可以粘贴到其他控制点来使用;

2 添加一个新的控制点:

可以从图形上来用鼠标添加控制点,选取工具条设置为’在几何元素上创建/编辑测量点’然后在曲线上拾取插入点; 弹出提示后点击继续即可添加一个控制点;

RationalDMIS 2020变速变密度扫描(定义引导路径扫描 II)_i++_06
应用:此扫描方法设计用来扫描叶片曲线,叶片头尾端曲率大需要慢速扫描及采更多的测量点
.

RationalDMIS 2020变速变密度扫描(定义引导路径扫描 II)_ide_07


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